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簡要描述：電子散斑干涉實驗系統(tǒng)主要面向大專院校教學使用。用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
產(chǎn)品型號：MXY4000-4C 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-07-10訪 問 量：3324詳細介紹
MXY4000-4C 電子散斑干涉實驗系統(tǒng)
一、儀器介紹
電子散斑干涉（ESPI）實驗系統(tǒng)主要面向大專院校教學使用。用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
二、儀器特點
結(jié)構(gòu)簡單、精度高、非接觸、靈敏性好、處理信息快、不必暗房操作、實時顯示全場信息。
三、實驗內(nèi)容
電子散斑干涉實驗
四、實驗配置
基本配置
激光器；加熱用電源；CCD攝像機；圖像采集卡；擴束鏡；分束器；二維平移底座；待測物體；通用底座；干板架；白屏；反射鏡等；
自行配置 計算機；顯示器；打印機
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